激光粒度分析仪MS200

激光粒度分析仪MS200：精准测量颗粒特性的科技利器

激光粒度分析仪MS200是一款基于激光散射原理的先进仪器仪表，主要用于精确测量物料中颗粒的粒径分布及浓度。以下是关于其卓越功能、核心技术参数、广泛应用领域、工作原理及行业动态的具体介绍：

一、功能特点：

1. 高精度测量：可检测0.01微米至毫米级的颗粒，其测量精度高达0.01微米，确保结果的准确性，覆盖广泛的粒径范围。

2. 快速分析：采样速率高达1000次/秒，能够在短时间内完成样品分析，极大提高了工作效率。

3. 多功能性：除了测量粒径分布，还可以测定颗粒的浓度、形状等参数，满足多样化的分析需求。

4. 操作便捷：配备直观的用户界面和自动化操作系统，使数据采集和处理流程更加简单方便。

二、技术参数：

测量范围：支持亚纳米至微米级颗粒的检测，典型型号可覆盖0.022000微米，为高端机型参数。其准确性对标准颗粒的D50测量误差控制在±1%以内。其重现性优秀，重复测量的D50误差低于±0.5%，确保结果的稳定性。

三、应用领域：

1. 材料科学：用于金属粉末、陶瓷材料及纳米颗粒的粒度分析，为材料制备工艺的优化提供重要依据。

2. 化工与制药：检测催化剂、药物颗粒的粒径分布，直接影响产品的溶解性与生物利用度。

3. 环境监测：分析大气或水体中的悬浮颗粒物，为环境污染评估提供有力支持。

四、工作原理：

激光粒度分析仪MS200基于米氏散射理论和激光衍射原理进行工作。通过激光束照射颗粒群，检测不同角度的散射光强度，结合算法反演粒径分布。其中，大颗粒主要产生前向小角度散射，而小颗粒的散射光分布更广且强度较弱。

五、行业动态：

激光粒度分析仪MS200作为主流激光粒度仪之一，其技术起源于20世纪70年代的激光衍射法。经过马尔文等厂商的推动发展，现广泛应用于科研与工业领域。国内同类仪器自90年代起逐步实现技术突破，满足了从纳米到微米级的测量需求。

激光粒度分析仪MS200是快速、精准分析颗粒特性的科技利器，适用于各种需要精确测量颗粒粒径和浓度的场景。